Four Point Prob - Dört Nokta Prob Ölçüm
Four Point Prob - Dört Nokta Prob Ölçüm
Four Point Prob - Dört Nokta Prob Ölçüm
Özünde yüksek özellikli Ossila Kaynak Ölçüm Birimi bulunan Ossila Dört Noktalı Prob, geniş bir ölçüm aralığına olanak tanıyan düşük maliyetli bir sistemdir. Prob başlığı keskin iğneler yerine yaylı kontaklar kullanarak nanometre kalınlığındaki polimer filmler gibi hassas numunelerin zarar görmesini önler. Fiyata dört noktalı prob, dahili kaynak ölçüm ünitesi, kullanımı kolay PC yazılımı ve ITO kaplı cam alt tabaka dahildir. Dünya çapında ücretsiz takipli gönderimin standart olması sayesinde, dünya çapında daha fazla laboratuvar artık malzeme karakterizasyonunu ve ince film geliştirme programlarını güçlendirmek için tabaka direncini ölçebiliyor.
Ana Özellikler
Geniş Akım Aralığı
Dört noktalı prob, 1 μA ila 200 mA arasında akım sağlama kapasitesine sahiptir ve 100 μV'den 10 V'a kadar düşük voltajları ölçebilir. Sistem, 100 mΩ/□ ila 10 MΩ/ aralığındaki tabaka dirençlerini ölçebilir. □ geniş bir yelpazedeki malzemelerin karakterizasyonuna olanak sağlar.
Kullanımı kolay
Sadece sistemi takın, yazılımı yükleyin ve artık hazırsınız! Sezgisel arayüz ve temiz tasarım, dört noktalı probun kullanımını kolaylaştırarak tabaka direncinin ölçümünü basitleştirir. Çeşitli şekil ve boyutlarda alt tabakalar kullanılabilir.
Yüksek Doğruluk
PC yazılımı kullanılarak pozitif ve negatif polarite ölçümleri yapılabilir. Bu, pozitif ve negatif akımlar arasındaki ortalama tabaka direncini hesaplamanıza olanak tanır; meydana gelebilecek voltaj sapmalarını ortadan kaldırır, dolayısıyla ölçümlerinizin doğruluğunu artırır.
Tahribatsız test
Hassas numunelerin ölçümü göz önünde bulundurularak tasarlanan dört noktalı prob başlığı, yuvarlak uçlu, altın kaplamalı, yumuşak yaylı temas noktalarını kullanır. Bu, 60 gramlık sabit bir temas kuvvetiyle sonuçlanır, bu da probların kırılgan ince filmleri delmesini engellerken aynı zamanda iyi bir elektrik teması sağlar.
Yerden Tasarruf Sağlayan Tasarım
Dikkatli tasarım değerlendirmesi sayesinde, dört noktalı probun kapladığı alanı minimumda tutmayı başardık (toplam tezgah alanı 14,5 cm x 24 cm), bu da raf alanının sınırlı olduğu yoğun laboratuvarlarda bile kullanılmasına olanak tanıyor.
Hızlı Malzeme Karakterizasyonu
PC yazılımı (sistemle birlikte gelir) tabaka direnci, direnç ve iletkenlik için gerekli tüm ölçümleri ve hesaplamaları gerçekleştirerek malzeme karakterizasyonunu zahmetsiz hale getirir. Ayrıca otomatik olarak düzeltme faktörü hesaplamasını da gerçekleştirir.
Dört Noktalı Prob Ölçüm Özellikleri
| Voltaj aralığı | ±100 μV ila ±10 V |
|---|---|
| Mevcut Aralık | ±1 μA ila ±200 mA (5 aralık) |
| Sac Direnç Aralığı | 100 mΩ/□ ila 10 MΩ/□ (kare başına ohm) |
| Sac Direnci | Kesinlik* | Kesinlik** | Aralıkta Ölçülmüştür |
|---|---|---|---|
| 100 mΩ/□ | ±%8 | ±%3 | 200mA |
| 1 Ω/□ | ±%2 | ±%0,5 | 200mA |
| 10 Ω/□ | ±%1 | ±%0,5 | 200mA |
| 100 Ω/□ | ±%1 | ±%0,05 | 20 mA |
| 1 kΩ/□ | ±%1 | ±%0,03 | 20 mA |
| 10 kΩ/□ | ±%1 | ±%0,02 | 2000 uA |
| 100kΩ/□ | ±%2 | ±%0,05 | 200 µA |
| 1 MΩ/□ | ±%8 | ±%0,5 | 20 µA |
| 10 MΩ/□ | ±30% | ±%5 | 20 µA |
*Doğruluk, gerçek değerden maksimum sapmadır.
** Hassasiyet, aynı ölçümler arasındaki maksimum sapmadır (karşılaştırmalı ölçümler için kullanışlıdır).
Fiziksel Cihaz Özellikleri
| Prob Aralığı | 1,27 mm (0,05") |
|---|---|
| Dikdörtgen Örnek Boyutu Aralığı |
Uzun Kenar Minimum: 5 mm (0,20") Kısa Kenar Maksimum: 60 mm (2,36") |
| Dairesel Numune Boyutu Aralığı (Çap) | 5 mm - 76,2 mm (0,20" x 3,00") |
| Maksimum Numune Kalınlığı | 10mm (0,39") |
| Genel Boyutlar (G x Y x D) | 145 mm x 150 mm x 240 mm (5,71" x 5,91" x 9,45") |
Yumuşak Temaslı Problarla Donatılmıştır
Ossila Dört Noktalı Prob Sistemi üç özelliği sayesinde hassas ince filmlere zarar verme potansiyelini azaltır. Temas sağlamak için kullanılan probların uçları yuvarlaktır (diğer keskin iğnelere benzeyen problardan farklı olarak). Bu yuvarlatılmış uçlar 0,24 mm'lik bir yarıçapa sahiptir ve problara bir iğnenin verebileceğinden daha büyük bir temas yüzeyi alanı sağlar, dolayısıyla numuneye uygulanan aşağı doğru kuvvet yayılır. Bu problar altın kaplamalıdır ve aşırı kuvvet olmadan elektrik temasını teşvik etmek için yaylar üzerine monte edilmiştir; çünkü bu, 60 gramlık eşit bir kuvvetin uygulanmasını sağlamak için numuneyle temas ettiğinde prob kafasına geri çekilmelerini sağlar. Aşağıdaki şekilde probların şeması gösterilmektedir. Prob başlığı buradan ayrı olarak satın alınabilir .
Bu sistemin silikon veya doğal olarak yalıtkan oksit katmanları oluşturan diğer malzemeler için uygun olmadığını lütfen unutmayın. Bu tür malzemeleri ölçmek için, oksit tabakasının problar tarafından delinmesi gerekir ki bu, bu sistemin kullandığı yay yüklü, yuvarlak uçlu problarla mümkün olmayabilir.
Uygulamalar
Levha direnci, malzeme karakterizasyonunda ve perovskit güneş pilleri veya organik LED'ler gibi ince film cihazlarının geliştirilmesinde yaygın olarak kullanılan malzemelerin önemli bir özelliğidir.
Malzeme Karakterizasyonu
Direnç, bir malzemenin doğal bir özelliğidir ve önemli bir elektriksel özelliktir. Bilinen bir kalınlığa sahip ince bir filmin tabaka direncinin ölçülmesiyle belirlenebilir, bu da dört noktalı prob ölçümünü malzemelerin elektriksel karakterizasyonu için önemli bir teknik haline getirir.
İnce Film Güneş Pilleri ve LED'ler
İnce film cihazlarının çıkarılması için elektrik yükünü yanal olarak taşıyan ince iletken elektrotlar gerekir, bu nedenle potansiyel kayıpları azaltmak için düşük tabaka direncine sahip malzemeler gerekir. Elektrik yüklerinin çıkarılmadan önce elektrotlar boyunca daha fazla ilerlemesi gerektiğinden, bu cihazların ölçeğini büyütmeye çalışırken bu daha da önemli hale gelir.
